Διαφορά μεταξύ των αναθεωρήσεων του "Φασματική απόκριση των αντικειμένων-Φασματικές ταυτότητες"
| (Μία ενδιάμεση αναθεώρηση από ένα χρήστη δεν εμφανίζεται) | |||
| Γραμμή 1: | Γραμμή 1: | ||
| − | Τα φυσικά χαρακτηριστικά και σύσταση κάθε αντικειμένου επηρεάζουν το ποσοστό της [[ | + | Τα φυσικά χαρακτηριστικά και σύσταση κάθε αντικειμένου επηρεάζουν το ποσοστό της [[Ηλιακή ακτινοβολία και γήινο περιβάλλον|ηλιακής ακτινοβολίας]] που ανακλάται, στα διάφορα μήκη κύματος, με τον δικό του χαρακτηριστικό τρόπο. Η ποσότητα και η φασματική κατανομή της ανακλώμενης και εκπεμπόμενης [[Νόμοι ακτινοβολίας|ακτινοβολίας]] από ένα αντικείμενο χρησιμοποιείται ως μέσο αναγνώρισης του αντικειμένου αυτού. Η ιδιότητα αυτή αναφέρεται ως η φασματική ταυτότητα (spectral signature) ή φασματική απόκριση (spectral response) του αντικειμένου και καταγράφεται από τους δέκτες (sensors) των δορυφόρων που βρίσκονται σε τροχιά παρατήρησης της γής. |
Εκτός από τις επιδράσεις με την ύλη, όπως η απορρόφηση, η ανάκλαση και η διάχυση, οι οποίες διαμορφώνουν την πληροφορία, που συλλέγεται με τις μεθόδους [[Τηλεπισκόπηση|τηλεπισκόπησης]], ένας άλλος παράγοντας που επιδρά στην ποιότητα του φάσματος είναι η γωνία πρόσπτωσης της ηλιακής ακτινοβολίας, η οποία εξαρτάται από το ύψος του ηλίου (sun elevation). | Εκτός από τις επιδράσεις με την ύλη, όπως η απορρόφηση, η ανάκλαση και η διάχυση, οι οποίες διαμορφώνουν την πληροφορία, που συλλέγεται με τις μεθόδους [[Τηλεπισκόπηση|τηλεπισκόπησης]], ένας άλλος παράγοντας που επιδρά στην ποιότητα του φάσματος είναι η γωνία πρόσπτωσης της ηλιακής ακτινοβολίας, η οποία εξαρτάται από το ύψος του ηλίου (sun elevation). | ||
Μια χρήσιμη ποσοτική έκφραση της ανάκλασης διαφορετικών αντικειμένων είναι ο συντελεστής ανάκλασης η φασματική ανάκλαση ή albedo. Εκφράζει το ποσοστό της προσπίπτουσας ακτινοβολίας που ανακλάται από τα αντικείμενα, π.χ. με 50% νεφοκάλυψη ή φασματική ανάκλαση είναι 35%. Ως εκ τούτου, το albedo επηρεάζει τον τρόπο με τον οποίο εμφανίζονται τα αντικείμενα κατά την παρατήρηση της γής από το διάστημα.<ref name="Φασματική απόκριση των αντικειμένων-Φασματικές ταυτότητες"/> | Μια χρήσιμη ποσοτική έκφραση της ανάκλασης διαφορετικών αντικειμένων είναι ο συντελεστής ανάκλασης η φασματική ανάκλαση ή albedo. Εκφράζει το ποσοστό της προσπίπτουσας ακτινοβολίας που ανακλάται από τα αντικείμενα, π.χ. με 50% νεφοκάλυψη ή φασματική ανάκλαση είναι 35%. Ως εκ τούτου, το albedo επηρεάζει τον τρόπο με τον οποίο εμφανίζονται τα αντικείμενα κατά την παρατήρηση της γής από το διάστημα.<ref name="Φασματική απόκριση των αντικειμένων-Φασματικές ταυτότητες"/> | ||
Τελευταία αναθεώρηση της 12:38, 28 Μαρτίου 2016
Τα φυσικά χαρακτηριστικά και σύσταση κάθε αντικειμένου επηρεάζουν το ποσοστό της ηλιακής ακτινοβολίας που ανακλάται, στα διάφορα μήκη κύματος, με τον δικό του χαρακτηριστικό τρόπο. Η ποσότητα και η φασματική κατανομή της ανακλώμενης και εκπεμπόμενης ακτινοβολίας από ένα αντικείμενο χρησιμοποιείται ως μέσο αναγνώρισης του αντικειμένου αυτού. Η ιδιότητα αυτή αναφέρεται ως η φασματική ταυτότητα (spectral signature) ή φασματική απόκριση (spectral response) του αντικειμένου και καταγράφεται από τους δέκτες (sensors) των δορυφόρων που βρίσκονται σε τροχιά παρατήρησης της γής. Εκτός από τις επιδράσεις με την ύλη, όπως η απορρόφηση, η ανάκλαση και η διάχυση, οι οποίες διαμορφώνουν την πληροφορία, που συλλέγεται με τις μεθόδους τηλεπισκόπησης, ένας άλλος παράγοντας που επιδρά στην ποιότητα του φάσματος είναι η γωνία πρόσπτωσης της ηλιακής ακτινοβολίας, η οποία εξαρτάται από το ύψος του ηλίου (sun elevation). Μια χρήσιμη ποσοτική έκφραση της ανάκλασης διαφορετικών αντικειμένων είναι ο συντελεστής ανάκλασης η φασματική ανάκλαση ή albedo. Εκφράζει το ποσοστό της προσπίπτουσας ακτινοβολίας που ανακλάται από τα αντικείμενα, π.χ. με 50% νεφοκάλυψη ή φασματική ανάκλαση είναι 35%. Ως εκ τούτου, το albedo επηρεάζει τον τρόπο με τον οποίο εμφανίζονται τα αντικείμενα κατά την παρατήρηση της γής από το διάστημα.[1]
Βιβλιογραφία
- ↑ Τηλεπισκόπηση - Εφαρμογές στις γεωεπιστήμες, των Μιγκίρου Γ., Παυλόπουλου Α., Παρχαρίδη Ι., Γατσή Ι., Ψωμιάδη Ε., Εργαστήριο Ορυκτολογίας - Γεωλογίας, Γεωπονικό Πανεπιστήμιο Αθηνών. Αθήνα 2003.
